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各种减小印制电路板边缘辐射效应的方法和技术

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各种减小印制电路板边缘辐射效应的方法和技术

发布日期:2018-10-08 作者:admin 点击:

印制电路板

随着电子设备向小型化和更高数率的方向发展,由此带来的是组件之间的间距越来越小、波长不断缩短。当波长缩短到接近组件和设备的物理尺寸时,这将导致噪声的“天线效应”增大。因此,防止噪声耦合到这些能辐射或产生耦合场的“天线”结构上变得更加重要,因为在更高的频率上,采用低成本的方式来实现对产品的电磁防护也变得更为困难。


同时,较小的波长会接近许多受试设备(EUTs)的物理尺寸,导致发生腔体的共振效应。当闭合体尺寸等于半波长的整数倍时,对应频率就是一谐振频率。在机箱内产生的波,其波节点(即零振幅)位于外壳的导电壁上。此结构就起到了腔体谐振器的作用。例如,一个2英寸见方乘1/2英寸的金属腔体其一阶模的谐振频率在12 GHz左右。在这些非常高的频率,即使是弱耦合也可以激励起强烈的振荡,然后场可以耦合到腔体内的任何其他点或可以产生辐射。腔体谐振的危险是,如果一个噪声源含有对应谐振频点的频率成分,由于以腔体“Q-因数”产生的乘积或放大效应,那么在谐振频率上会激励起很强的场。减弱该现象的一种方法是通过能损耗能量(Q-抑制)的措施来降低腔体的“Q-因数”,通常做法是在腔体内安放吸收材料。


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